产品介绍

SOI Wafer 是一种具有"硅-绝缘层-硅"三层结构的特殊晶圆,中间的绝缘层(通常为二氧化硅)将顶层器件硅与底部衬底硅隔离开来。相较于传统体硅晶圆,SOI 结构能够有效降低寄生电容、减少漏电流,从而提升芯片的运行速度并降低功耗。SOI 晶圆是现代高性能、低功耗集成电路制造中的关键材料,广泛应用于先进逻辑芯片、射频芯片及 MEMS 器件领域。

我们的 SOI 晶圆采用顶层器件硅、埋氧绝缘层(BOX)与衬底硅三层结构,直径覆盖 2 至 8 英寸,层厚公差控制在 ±5% 以内。可提供 P 型、N 型及本征多种掺杂类型,电阻率范围宽泛,广泛应用于 CMOS 逻辑芯片、射频器件、MEMS 传感器及功率半导体制造,是高性能低功耗芯片的理想衬底材料。

应用场景

- 先进CMOS逻辑与低功耗集成电路 

- 射频前端与高频器件 

- 微机电系统(MEMS)传感器与执行器 

- 需要介电隔离的功率半导体器件

为什么选择我们?

三层结构层厚控制精准,公差稳定在 ±5% 以内

总厚度偏差(TTV)小于 5μm,翘曲度小于 20μm,保障下游光刻工艺一致性

掺杂类型与电阻率范围可定制,满足不同工艺需求

支持 2 至 8 英寸全尺寸覆盖,兼顾研发打样与批量生产

参数规格
SOI WAFER
器件层-顶层 最小值 最大值
晶体生长方法 CZ,FZ
直径 2" 8"
厚度 0.05μm >300μm
公差 ±5%
晶向 (100),(110),(111)
类型 / 掺杂剂 P/Boron,N/Phosphorus,Intrinsic
电阻率 0.001ohm-cm >20000ohm-cm
正面 抛光面
埋氧层BOX LAYER 最小值 最大值
厚度 0.1μm 3μm
公差 ±5%
支撑衬底层 最小值 最大值
晶体生长方法 CZ,FZ
直径 2" 8"
厚度 200μm 750μm
公差 ±5%
晶向 (100),(110),(111)
类型 / 掺杂剂 P/Boron,N/Phosphorus,Intrinsic
电阻率 0.001ohm-cm >20000ohm-cm
背面 带氧化层的蚀刻面 或 抛光面
晶圆整体特性 最小值 最大值
TTV <5μm
BOW <20μm